Expertentipp Archiv

Die NanoFocus Expertentipps

Unsere Tipps zum Handling von Hard- und Software zum Download

In unserer Newsletter-Rubrik "Expertentipp" stellen Ihnen unsere Fachleute aus der Applikation die besten Tipps und Kniffe für den optimalen und effizienten Umgang mit den NanoFocus-Messsystemen und der dazugehörigen Software vor. Unser Archiv hält alle bisherigen Ausgaben für Sie bereit.

Falls Sie selbst Fragen haben oder ein spezielles Thema gerne näher beleuchtet hätten, senden Sie uns Ihre Themenvorschläge. Wir nehmen Ihre Anregungen gerne auf.

Alle bisherigen Expertentipps:


Nr. 16: Messung von schwer zugänglichen Probenstellen mit Abdruckverfahren

Sie möchten die Flanke eines Bauteils erfassen, nur die richtige Positionierung und Messung der Probe unter dem µsurf- oder µscan-System gelingt nicht?
Physikalische und optische Grenzen zwingen den Nutzer nach einer alternativen Lösung zu suchen.  Mit der Verwendung von Abdruckmasse tun sich eine Reihe von Messmöglichkeiten auf, welche bisher durch die Lage nicht ermöglicht werden konnten.

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Nr. 15: Messdaten für die Analyse vorbereiten - Teil 2

Ergänzend zu Tipp 14 vermittelt Tipp Nr. 15 einen Überblick über die Möglichkeiten, vereinzelte Oberflächenpunkte gezielt nach bestimmten Kriterien zu maskieren und falls notwendig Bereiche auszubessern.

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Nr. 14: Messdaten für die Analyse vorbereiten - Teil I

Die Messdaten sind erfasst ... und was nun?
Jeder Messdatensatz bedarf einer Aufbereitung vor der eigentlichen Analyse. Tipp 14 gibt Hilfestellung zur Erstellung einer universell einsetzbaren Vorverarbeitung mit der μsoft analysis. Ziel dabei ist, eine schnelle und vergleichbare Bearbeitung zur weiteren Auswertung zu schaffen.

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Nr. 13: Die Navigatorfunktion der μsoft metrology V 7.6

Die NanoFocus Mess- und Ansteuerungssoftware µsoft metrology ist mit einer Navigator-Funktion ausgestattet, die auch auf großen Probenoberflächen eine schnelle Orientierung bietet.
Es wird ein schnelles Übersichtsbild erstellt, in welchem gewünschte Messbereiche bequem mit der Maus ausgewählt werden können.

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Große Flächen messen mit ShapeTracing

Nr. 12: Große Flächen schnell messen mit ShapeTracing

Die neue Version der μsoft metrology bringt einige entscheidende Verbesserungen bei der Messung großer Stitchingfelder. Insbesondere bei leicht gekrümmten und welligen Oberflächen werden im Zusammenspiel mit der Intensitätskorrektur  hoch qualitative Messungen in kürzester Zeit erzeugt. Unser Tipp stellt Ihnen das ShapeTracing vor.

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Nr. 11: Export und Import von alternativen Datenformaten

Die μsoft-Softwarepakete bieten verschiedene Datenformate bzw. Transferformate für den Import und Export der Messdaten in andere Programme. Unser Tipp gibt Ihnen eine Übersicht und Hilfestellung zur Vorgehensweise beim Export bzw. beim Import von Messdaten, Studien und Parametern. Weiterhin wird die Möglichkeiten des Bild- bzw. Filmexports von 3D-Daten vorgestellt.

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Nr. 10: Referenzdatei und Ebenheitsnormal

Die Grundlage für präzises Messen mit allen μsurf-Systemen ist eine gute Referenzdatei. Diese wird mittels eines Ebenheitsstandards erstellt. Unser Tipp beleuchtet die Hintergründe, die richtige Erstellung und die möglichen Fehlerquellen. Außerdem wird die fachgerechte Reinigung des Ebenheitsnormals beschrieben.

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Nr. 9: Differentiellen Interferenzkontrast mit Ihrem Messsystem nutzen

Die Spezialsoftware DICe von NanoFocus bietet die Möglichkeit, Ihre NanoFocus-Messdaten als differentielles Interferenz-Kontrastbild darzustellen. So können Sie Ihr Messsystem zusätzlich als Differentielles Interferenz-Kontrastmikroskop (DIC) nutzen. Die Software liefert weiterhin gegenüber einem DIC-Mikroskop viele Vorteile. Unser Tipp stellt Ihnen die Möglichkeiten vor.

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Nr. 8: Oberflächenmessung an unzugänglichen Stellen

Die Messung von Proben an schwer zugänglichen Stellen und von großen Objekten ist oft aufwendig und langwierig. In unserem Tipp stellen wir die Verwendung des Replika-Sets zur Herstellung von Probenabdrücken und dessen Vermessung vor.

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Nr. 5: Konturanalyse und statistische Auswertung

Das Modul Konturanalyse der µsoft analysis wurde um vielfältige Funktionen erweitert. Damit steht allen Nutzern ein leistungsstarkes Modul zur Bestimmung von Abmessungen und Winkeln zur Verfügung. Unser Tipp gibt eine Starthilfe zur Arbeit mit dem Programm.

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Nr. 4: Messdaten effizient auswerten mit Minidocs

Beim Auswerten von Messdaten mit der μsoft analysis werden Sie nach einiger Zeit bemerken, dass Sie einige Teile der Analyse wie die Datenvorverarbeitung immer wieder verwenden. Sie müssen diese Abläufe nicht für jedes Dokument neu erstellen. Die μsoft analysis bietet dafür auch die Funktion einer Minianalysevorlage – die sogenannten Minidocs. Mit unserem Tipp bringen wir Ihnen die Minidocs in der μsoft analysis näher und geben nützliche Tipps zur Erstellung.

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Nr. 3: Stitching

Nicht immer ist der Bereich, der durch das Objektiv vorgegeben ist, groß genug um die gewünschte Fläche zu erfassen. NanoFocus-Messsysteme bieten zur Erweiterung des Messfeldes eine Stitching-Option – ähnlich der Panoramafunktion einer Digitalkamera. Hier erhalten Sie die besten Tipps rund im das Stitching mit NanoFocus-Systemen.

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Tipp Nr. 2: Einlesen von Höhen- und Reflektionsdaten

Nr. 2: Einlesen von Höhen- und Reflektionsdaten

Zur besseren Visualiserung Ihrer Messdaten bietet die μsoft analysis eine Vielzahl von Möglichkeiten. Ab der Softwareversion 5 lassen sich bereits in der Standardversion sowohl Höhen- als auch Reflektionsdaten einlesen.Unser Tipp soll Ihnen das Einlesen der Dateien erleichtern.

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Nr. 1: Formateinstellungen definieren

Die μsoft analysis eignet sich hervorragend um einen Analyseablauf als Vorlage zu definieren und durch reinen Austausch der Daten ein Protokoll zu erzeugen. Um Ihnen die Arbeit zu erleichtern, möchten wir Ihnen ein paar Tipps zur Formatierung geben.


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