Das 3D-Profilometer µscan custom hat sich bei der Messung von Topografie, Höhenprofil oder Schichtdicke im Produktionsprozess vielfach bewährt. Seine modulare Bauweise ermöglicht eine Anpassung an viele unterschiedliche Messaufgaben. Das NanoFocus-Softwarekonzept erlaubt eine Einarbeitung in kürzester Zeit: Vom automatisch generierten Analyseprotokoll bis zur SPC-Auswertung erhalten Sie eine speziell auf Ihre Anwendung zugeschnittene „Knopfdrucklösung“. Mit der NanoFocus µscan-Serie messen Sie zudem bis zu 100 mal schneller als mit herkömmlichen Tastsystemen. Das spart Zeit und senkt die Kosten.

Unsere Anwendungs-Experten wählen gemeinsam mit Ihnen die optimale Kombination von Sensoren, Messtisch/ Stativ und Analysesoftware.

Die optischen Sensoren decken Höhen-Messbereiche zwischen 300 µm und 18 mm ab. Die Höhenauflösung beträgt bis zu 10 nm. Heute wird eine Vielzahl unserer Messlösungen als Industriestandard eingesetzt. Lassen auch Sie sich von unseren Spezialisten bei der Lösung Ihrer Messaufgabe beraten.

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