3D-Topometrie

Die robuste µsurf-Technologie basiert auf der CMP-Technologie (Confocal-Multi-Pinhole) von NanoFocus.

Ihr Vorteil: Sekundenschnell werden Topografie, Rauheit und Schichtdicke im Mikro- und Nanometerbereich erfasst.

3D-Profilometrie

Die flexible µscan-Technologie basiert auf optischer 3D-Scanning- Profilometrie unter Einsatz verschiedener Punktsensoren.

Ihr Vorteil: Maßgeschneiderte Messlösungen für große Flächen oder einzelne Profillinien mit Auflösungen im Mikro- und Nanometerbereich.

Produktkategorie: Standard
µsurf explorer Standard fürs Prüflabor µsurf mobile Überall einsatzbereit	µscan explorer Kompakte und automatisierbare 3D-Profilometrie

Produktkategorie: Modular
µsurf custom Messgerät nach Wunsch	µscan custom Flexible Profilometer für die Qualitätskontrolle

Produktkategorie: Business Solutions
µsurf cylinder Messung von Zylinderlaufflächen µsurf solar Inspektion von kristallinen Solarzellen µsurf blade Präzise Schneidkantenerfassung	µscan leak test Prüfung von MEMS auf dem Wafer

Produktkategorie: Integration
µsurf sensor Flächensensor zur Integration in Produktionsmaschinen	µscan sensor Punktsensoren zur Integration in Produktionsmaschinen	µsprint sensor